Левандовський, Борис Iванович2016-05-102016-05-102013Пат. 85149 Україна, МКИ B82B 1/00, G01B 11/06 (2006.01). Спосiб визначення абсолютної товщини мiжзеренного прошарку в голчастих зразках з бамбуковою структурою / Левандовський Борис Iванович ; власники : Харків. нац. автомоб.-дор. ун-т, Левандовський Борис Iванович. - N u 2013 06270 ; заявл. 21.05.2013 ; опубл. 11.11.2013, Бюл. N 21. - 4 с.https://dspace.khadi.kharkov.ua/handle/123456789/1377Спосіб визначення абсолютної товщини міжзеренного прошарку в голчастих зразках з бамбуковою структурою, який відрізняється тим, що вимірюють параметри діючого електричного поля на зразок під час його атомного випаровування, здійснюючи його об'ємне сканування за допомогою польового іонного мікроскопа, після цього шукану величину розраховують за формулою , де - товщина шару першого мікрокристала, яку визначають за кількістю атомних шарів, що випаровуються; , , - відповідні напруги, при яких спостерігають зображення півсферичних поверхонь голчастих зразків з радіусами R1, R2, R3.ukфiзикаOther