Левандовський, Борис Iванович2016-04-202016-04-202015Пат. 103599 Україна, МКИ B82B 1/00. Спосiб визначення вiдносної змiни поверхневої енергiї голчастих кристалiв внаслiдок появи тонкого металевого шару покриття / Левандовський Борис Iванович ; власники : Харків. нац. автомоб.-дор. ун-т, Левандовський Борис Iванович. - N u 2014 05594 ; заявл. 06.06.2015 ; опубл. 25.12.2015, Бюл. N 24. - 2 с.https://dspace.khadi.kharkov.ua/handle/123456789/12641. Спосіб визначення відносної зміни поверхневої енергії голчастих кристалів внаслідок появи тонкого шару металевого покриття, який відрізняється тим, що чисельне значення величини знаходять завдяки вимірюванню параметрів діючого електричного поля на зразок в польовому іонному мікроскопі (ПІМ), причому шукану величину розраховують за формулою: γ2/γ1=(U02/U01),2 (1) де U01 та U02 - напруги електричного поля під час спостереження в ПІМ зразка без покриття та з покриттям; γ1 - поверхнева енергія голчастого зразка без покриття; γ2 - поверхнева енергія тонкого шару металевого покриття. 2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що у випадку, коли R1¹R2, тобто радіус верхівки R1 голчастого зразка помітно змінюється до R2, після осадження шару покриття, шукану величину розраховують за формулою: γ2/γ1=(R2/R1)(U02/U01),2 (2) де U01 та U02 - напруги електричного поля під час спостереження в ПІМ зразка без покриття та з покриттям; γ1 - поверхнева енергія голчастого зразка без покриття; γ2 - поверхнева енергія тонкого шару металевого покриття; R1 - радіус кривизни верхівки голчастого зразка без покриття; R2 - радіус кривизни верхівки голчастого зразка з покриттям.ukматерiалознавствоOther