Спосiб визначення абсолютної товщини мiжзеренного прошарку в голчастих зразках з бамбуковою структурою

Abstract

Спосіб визначення абсолютної товщини міжзеренного прошарку в голчастих зразках з бамбуковою структурою, який відрізняється тим, що вимірюють параметри діючого електричного поля на зразок під час його атомного випаровування, здійснюючи його об'ємне сканування за допомогою польового іонного мікроскопа, після цього шукану величину розраховують за формулою ,

де - товщина шару першого мікрокристала, яку визначають за кількістю атомних шарів, що випаровуються;

, , - відповідні напруги, при яких спостерігають зображення півсферичних поверхонь голчастих зразків з радіусами R1, R2, R3.