2015
Постійне посилання зібранняhttps://dspace.khadi.kharkov.ua/handle/123456789/1241
Переглянути
Перегляд 2015 за Ключові слова "матерiалознавство"
Зараз показуємо 1 - 3 з 3
- Результатів на сторінці
- Налаштування сортування
Документ Кольорова органо-мiнеральна сумiш(2015) Золотарьов, Вiктор Олександрович; Оксак, Сергiй Володимирович; Свинарьов, Максим ОлександровичКольорова органо-мінеральна суміш, що містить комплексне в'яжуче, мінеральний порошок, пігмент і мінеральний заповнювач, яка відрізняється тим, що як комплексне в'яжуче використовують суміш нафтополімерної смоли (65-70 %), розрідженої індустріальним мастилом (30-35 %), та термоеластопласту типу SBS у кількості 3-9 % від маси розрідженої нафтополімерної смоли, при наступному співвідношенні компонентів, мас. %: комплексне в'яжуче 5,0-7,0 мінеральний порошок 8,0-14,0 пігмент 1,0-2,0 мінеральний заповнювач решта.Документ Молоток Кашкарова модифiкацiйний(2015) Костiна, Людмила Леонiдiвна; Толмачов, Сергiй МиколайовичМолоток Кашкарова модифікований, що містить головку, рукоятку, еталонний стрижень, сталеву кульку (індентор), стакан, пружину, який відрізняється тим, що з метою підвищення точності вимірювань в запропонованій конструкції молотка Кашкарова замість круглих стрижнів використовують квадратні стрижні.Документ Спосiб визначення вiдносної змiни поверхневої енергiї голчастих кристалiв внаслiдок появи тонкого металевого шару покриття(2015) Левандовський, Борис Iванович1. Спосіб визначення відносної зміни поверхневої енергії голчастих кристалів внаслідок появи тонкого шару металевого покриття, який відрізняється тим, що чисельне значення величини знаходять завдяки вимірюванню параметрів діючого електричного поля на зразок в польовому іонному мікроскопі (ПІМ), причому шукану величину розраховують за формулою: γ2/γ1=(U02/U01),2 (1) де U01 та U02 - напруги електричного поля під час спостереження в ПІМ зразка без покриття та з покриттям; γ1 - поверхнева енергія голчастого зразка без покриття; γ2 - поверхнева енергія тонкого шару металевого покриття. 2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що у випадку, коли R1¹R2, тобто радіус верхівки R1 голчастого зразка помітно змінюється до R2, після осадження шару покриття, шукану величину розраховують за формулою: γ2/γ1=(R2/R1)(U02/U01),2 (2) де U01 та U02 - напруги електричного поля під час спостереження в ПІМ зразка без покриття та з покриттям; γ1 - поверхнева енергія голчастого зразка без покриття; γ2 - поверхнева енергія тонкого шару металевого покриття; R1 - радіус кривизни верхівки голчастого зразка без покриття; R2 - радіус кривизни верхівки голчастого зразка з покриттям.